X射線鍍層測厚儀XDLM231/237

Name: X射線鍍層測厚儀XDLM231/237
Availability: InStock

描述：品牌：菲希爾型號：XDLM231/237樣品高度：140mm

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詳細內容/ Product Details

可用于測量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析，也可以進行電解溶液含量成份分析，帶有國家豁免證書，無放射源設計，安全環保。主要用于微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層測量、分析。

1、測量大規模生產的電鍍零部件；

2、測量微小區域上的薄鍍層；

3、測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層；

4、全自動測量，如測量印刷線路板。

型號項目		XDLM-231	XDLM-237
通用規格	設計用途	能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) ，測量薄鍍層和微小結構樣品，分析合金組分
	元素范圍	從元素氯 (17) 到鈾 (92)，最多可以同時測定24種元素
工作臺	平臺	固定式樣品平臺	馬達驅動可編程X/Y平臺
	可用樣品平臺	463mm x 500mm	300mm x 350mm
	X/Y平臺移動距離	/	255mm x 235mm
	X/Y平臺移動速度	/	≤80mm/s
	X/Y平臺移動重復精度	/	≤0.01mm（單向）
	樣品重量	20kg	5kg，降低精度可達20kg
	樣品高度	140mm
電氣參數	電原要求	AC 220V 50HZ
	功耗	120W（測量頭，不包括計算機）
	保護等級	IP40
環境要求	使用溫度	10℃-40℃
	存儲或運輸時溫度	0℃-50℃
	空氣相對濕度	≤95%，不結露
計算單元	計算機	Windows®-PC
	軟件	標準：Fischer WinFTM® BASIC 可選：Fischer WinFTM® PDM®，SUPER
尺寸規格	外部尺寸	570mm×760mm×650mm
	內部測量艙尺寸	460mm x 495mm x146mm
重量		100kg		120kg

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